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一、引言：IV特性测试的重要性与挑战 IV特性测试通过测量器件在不同电压下的电流响应，揭示其电学特性（如导通电阻、阈值电压、击穿电压等），是半导体研发、器件筛选及性能评估的核心环节。然而，传统测试设备常面临精度不足、操作复杂、多参数协同控制困难等问题，尤其在纳米级器件、低功耗电路等场景中，微小电流/电压信号的准确捕捉成为技术瓶颈。吉时利2450数字源表（以下简称“2450”）以其突破性的技术设计，为高精度IV测试提供了全新解决方案。 二、吉时利2...