薄膜水分含量的精确检测有助于电子企业及时调整生产工艺，通过灵活组网，实现绝缘薄膜水分含量智能监管

文华财经随身行 2025-07-26 07:25:28 4434 0

在电子行业，绝缘薄膜水分含量不稳定，一旦发现水分含量超出标准范围，会导致电子元件在使用过程中频繁出现短路、漏电等故障，因此，在生产过程中，需要配置水分仪对生产中的绝缘薄膜水分进行检测，以便及时调整生产工艺，确保包装薄膜的水分含量始终处于理想状态。

物质内部的分子结构，如水中的氧-氢键和有机物中的碳-氢键，会吸收特定波长的近红外光线。在特定波长下，所反射的近红外线能量和它所包含的吸收近红外线的分子的数量成反比。济南祥控自动化设备有限公司自主研制的近红外水分检测仪XKCON-NIR-MA-FV根据近红外波长会被水分子吸收的原理，通过分析某特定波长的近红外能量变化，能够精确检测绝缘薄膜极其微量的水分含量变化。

近红外水分检测仪XKCON-NIR-MA-FV采用近红外光谱检测技术(NIR)，这种测量技术是一种非破坏性、非接触式的实时水分检测技术，能实现对绝缘薄膜进行快速、无污染水分测量，并具有的技术优势：

秒级响应：实时监测水分变化，避免人工采样滞后，提升产线效率。

精准稳定：采用近红外漫反射原理，检测精度高，适应复杂工况。

降本增效：减少原料浪费与返工成本，节约单条产线成本。

绿色环保：无化学试剂消耗，降低污染风险，助力企业实现可持续发展目标。